QUANTAX FlatQUAD 是基于 XFlash? FlatQUAD 的 EDS 分析系統。這種環形四通道硅漂移探測器實驗時位于SEM極靴和樣品之間，在EDS測試中實現Max固體角。QUANTAX FlatQUAD 與 ESPRIT 分析軟件套件相結合，即使是對于最困難的EDS樣品，可以提供無與倫比的面分析性能。

• 僅使用中等電流就可以進行極快的面分析表征

• 可以在極低電流(<10pA)下對束流敏感材料進行分析，例如生物或半導體樣品

• 對具有粗糙表面的樣品進行表征，有效避免陰影效應

• 低kV 和高放大倍率下的納米顆粒和納米結構分析

• SEM 中測量薄樣品（如 TEM 薄片）和其他 X 射線產量低的樣品的理想化選擇

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注：該產品未在中華人民共和國食品藥品監督管理部門申請醫療器械注冊和備案，不可用于臨床診斷或治療等相關用途。