微區 XRF 是 SEM 中 EDS 分析的互補分析技術掃描電子顯微鏡 （SEM）的微區 X 射線熒光 （Micro-XRF） 技術是與傳統能量分散光譜 （EDS）能力補充的無損分析技術。這種分析技術對于未知樣品中元素成分的表征非常重要...

Hysitron PI 89 掃描電鏡聯用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的卓越成像能力，可以在成像的同時進行定量納米力學測試。這套全新系統搭載 Bruker 領先的電容傳感技術，繼承了引領市場的第一批商業化原...

補充您的 SEM：使用電子探頭微分析儀的好處用于 SEM 的 QUANTAX WDS由 XSense 波長分散光譜儀組成，在所有平行光束 WDS 系統中實現優秀的分辨率。與基于羅蘭圓的 WDS 光譜儀相比，QUANTAX WDS 由于平行光束設計，可...

ESPRIT 2 將四種分析方法結合在單個用戶界面下。其中包括用于SEM和（S）TEM的EDS、WDS、用于SEM的微區XRF和EBSD。這樣，用戶只需單擊鼠標即可輕松在不同方法之間切換。此外，它便于將來自同一樣本區域的不同方法采集...

先進的 3D EBSD&EDS 數據后處理軟件平臺ESPRIT QUBE 是用于先進的 3D EBSD 和 EDS 數據的后處理和可視化軟件平臺。QUBE 是由德國杜塞爾多夫Max Plank 鐵研究所的專家團隊合作開發，擁有基于單元...