X射線顯微CT： zei先進(jìn)的無損三維顯微鏡
X射線顯微CT： zei先進(jìn)的無損三維顯微鏡
S8 LION是布魯克AXS公司全新設(shè)計(jì)的多道波長色散X射線熒光光譜儀，采用了當(dāng)前zei新技術(shù)設(shè)計(jì)的固態(tài)發(fā)生器、zei新技術(shù)設(shè)計(jì)的超高電流X射線光管、當(dāng)前zei先進(jìn)的電子技術(shù)全新設(shè)計(jì)的電路板、全新開發(fā)的高強(qiáng)度彎晶體等，使X射線熒光光譜儀對元素的分析產(chǎn)生了突破，S8 LION又一次站在了X射線熒光儀技術(shù)的zei前沿。
SKYSCAN 2214 是布魯克推出的新納米斷層掃描系統(tǒng)，是顯微 CT 技術(shù)領(lǐng)域的先行者，在為用戶帶來了終級分辨率的同時(shí),提供非常好的用戶體驗(yàn)。SKYSCAN 2214 的每個(gè)組件都融入的新的技術(shù)，使其成為當(dāng)今市場上性能很強(qiáng)、適用性很廣的系統(tǒng)。
2nd D8 VENTURE/QUEST是布魯克公司推出的zei新，功能zei強(qiáng)大的X射線單晶衍射儀。一體化整合的設(shè)計(jì)，配備目前世界上zei先進(jìn)的光源，測角儀，PHOTON II CPAD探測器，硬件穩(wěn)定，精度高，幫助您測試zei富有挑戰(zhàn)性的晶體，獲得zei佳的數(shù)據(jù)質(zhì)量。
2nd D8 VENTURE/QUEST是布魯克公司推出的功能強(qiáng)大的X射線單晶衍射儀。一體化的設(shè)計(jì)，配備目前世界上先進(jìn)的光源以及PHOTON II CPAD探測器，幫助您測試zei富有挑戰(zhàn)性的晶體，獲得質(zhì)量高的數(shù)據(jù)。
第二代S8 TIGER成功推出，采用HighSenseTM技術(shù)，保證從鈹（4Be）到镅（95Am）的所有元素提供zei佳的靈敏度。HighSense技術(shù)包括專利的zei緊湊的HighSense光路、HighSense X射線發(fā)生器、HighSense X射線管、HighSense XS系列分光晶體、HighSense計(jì)數(shù)電子元件。憑借HighSense技術(shù)、高分辨率WDXRF技術(shù)以及對輕、中、重元素的zei佳檢測，第二代S8 TIGER的XRF2 微區(qū)分析系統(tǒng)可提供zei高靈敏度、300μm的zei小光斑尺寸以及zei高的空間分辨率。
布魯克公司全新的D8 DISCOVER X射線衍射儀，材料研究領(lǐng)域的先進(jìn)X射線衍射系統(tǒng)。采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，配備了集成化的DIFFRAC.SUITETM軟件，附件自動(dòng)識別、即插即用以及完全集成化的二維XRD2功能。這些特征使得用戶可以非常方便的在材料研究領(lǐng)域的不同應(yīng)用之間切換，包括：反射率測量(XRR)、高分辨測量(HRXRD)、掠入射(GID)、面內(nèi)掠入射(IP-GID)、小角散射(SAXS)以及殘余應(yīng)力和織構(gòu)分析。
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無需對光。通過TWIST TUBE技術(shù)，使用戶可以在1分鐘內(nèi)完成從線光源應(yīng)用（常規(guī)粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應(yīng)用（織構(gòu)、應(yīng)力、微區(qū)）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問題從此成為歷史！
TEM、STEM 和 SEM （T-SEM） 中納米尺度的 EDS 元素面分析清晰的多功能測量裝置和細(xì)管徑幾何構(gòu)型可確保在常規(guī)基礎(chǔ)上快速可靠的采集 TEM EDS 數(shù)據(jù)。使用 HyperMap 或譜圖獲取高光譜成像，我們的軟件保存每個(gè)像素的譜...
QUANTAX EBSD 系統(tǒng)加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測器，是分析 SEM 中納米材料的理想化解決方案。原因如下：提供 1.5 nm 的空間分辨率在不影響速度和/或數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下以低測試電流進(jìn)行測試在使用浸入式透鏡模式的...
微區(qū) XRF 是 SEM 中 EDS 分析的互補(bǔ)分析技術(shù)掃描電子顯微鏡 （SEM）的微區(qū) X 射線熒光 （Micro-XRF） 技術(shù)是與傳統(tǒng)能量分散光譜 （EDS）能力補(bǔ)充的無損分析技術(shù)。這種分析技術(shù)對于未知樣品中元素成分的表征非常重要...
Hysitron PI 89 掃描電鏡聯(lián)用納米壓痕儀利用掃描電子顯微鏡（SEM、FIB/SEM）的卓越成像能力，可以在成像的同時(shí)進(jìn)行定量納米力學(xué)測試。這套全新系統(tǒng)搭載 Bruker 領(lǐng)先的電容傳感技術(shù)，繼承了引領(lǐng)市場的第一批商業(yè)化原...
補(bǔ)充您的 SEM：使用電子探頭微分析儀的好處用于 SEM 的 QUANTAX WDS由 XSense 波長分散光譜儀組成，在所有平行光束 WDS 系統(tǒng)中實(shí)現(xiàn)優(yōu)秀的分辨率。與基于羅蘭圓的 WDS 光譜儀相比，QUANTAX WDS 由于平行光束設(shè)計(jì)，可...
ESPRIT 2 將四種分析方法結(jié)合在單個(gè)用戶界面下。其中包括用于SEM和（S）TEM的EDS、WDS、用于SEM的微區(qū)XRF和EBSD。這樣，用戶只需單擊鼠標(biāo)即可輕松在不同方法之間切換。此外，它便于將來自同一樣本區(qū)域的不同方法采集...
布魯克 EDS 適配每一款電子顯微鏡并提供無與倫比的速度和精度，這使得布魯克 EDS 為任何實(shí)驗(yàn)室提供了最強(qiáng)大的 EDS 系統(tǒng)。此系統(tǒng)包括光譜成像，使微納米分析不再是一個(gè)挑戰(zhàn)。
QUANTAX ED-XS 是一款為緊湊型電鏡設(shè)計(jì)的EBSD-EDS系統(tǒng)：可搭配在緊湊型SEM和臺式掃描電鏡用戶可自行更換探頭經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的服務(wù)合同選項(xiàng)可實(shí)現(xiàn)EBSD和EDS數(shù)據(jù)同步采集易于使用的 EBSD：無需校準(zhǔn)并且用戶可自行更換磷屏安...
先進(jìn)的 3D EBSD&EDS 數(shù)據(jù)后處理軟件平臺ESPRIT QUBE 是用于先進(jìn)的 3D EBSD 和 EDS 數(shù)據(jù)的后處理和可視化軟件平臺。QUBE 是由德國杜塞爾多夫Max Plank 鐵研究所的專家團(tuán)隊(duì)合作開發(fā)，擁有基于單元...
QUANTAX EBSD 系統(tǒng)加上廣受歡迎的 OPTIMUS TKD 探測器，是分析 SEM 中納米材料的理想化解決方案。原因如下：提供 1.5 nm 的空間分辨率在不影響速度和/或數(shù)據(jù)質(zhì)量的情況下以低測試電流進(jìn)行測試在使用浸入式透鏡模式的...
D6 PHASER是德國布魯克AXS公司新推出全球首款用于X射線粉末衍射反射與透射幾何、掠入射衍射與反射法薄膜分析以及塊體樣品應(yīng)力和織構(gòu)分析的臺式衍射儀平臺。
CRONO移動(dòng)式微區(qū)X射線熒光光譜儀是一款可移動(dòng)且可重新配置的快速檢測的微型XRF掃描儀。基于EDXRF技術(shù)，可對大型樣品進(jìn)行原位，非破壞性和快速檢測。XRF組件完全集成到一個(gè)緊湊的測量頭中，元素檢測范圍從Na到Am，即...
主要特點(diǎn)：1.M6 JETSTREAM可以分析水平放置的樣品，還可以分析垂直放置的樣品。2.在高激發(fā)強(qiáng)度以及樣品臺的快速移動(dòng)情況下，仍可實(shí)現(xiàn)快速檢測。3.M6 JETSTREAM的光斑大小可以在5步之內(nèi)，根據(jù)樣品結(jié)構(gòu)及所需空間分辨...
對于嵌入鋼筋的混凝土成分，需要適當(dāng)?shù)纳疃葋碜柚孤入x子的進(jìn)入，從而提供防腐蝕保護(hù)。然而我們并不能總是提供合適的設(shè)計(jì)和養(yǎng)護(hù)，在某些情況下，由于混凝土中的孔隙溶液的高堿性,鋼筋混凝土中的鋼筋處于鈍化狀...
