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安捷倫科技（中國）有限公司
日本KETT LE-200J膜厚計/涂層測厚儀 日本KETT LE-200J膜厚計/涂層測厚儀的技術參數： 測定方法 電磁式 測定對象 磁性金屬磁性涂鍍層 測定范圍 電磁式：0...
日本KETT 雙效膜厚計 LZ-200J采用了磁性和渦流兩種測厚方法， 測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬 磁性鋼等）非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、 鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體， 如銅、鋁、鋅、錫...
日本KETT 雙效測厚儀 LZ-370技術參數表： 測定方式 電磁誘導式または渦電流式 測定対象 磁性金屬 測定範囲 0～1500μm/99.0milsまたは0～1200μm/47.0mils...
L-2B電磁膜厚計特點：測量薄的電鍍層，如油箱內部和車船的油漆厚度L-2B電磁膜厚計 測定方法：電磁式 測定對象：磁性基體的非磁性涂鍍層 測定范圍：A欄：0~500 B欄：0.3~5mm 探頭：雙磁極 表示方法：指針式 電源：1.5...
日本KETT 電磁膜厚計 デルタスコープFMP30技術參數表：仕様 デルタスコープFMP30測定方式 電磁誘導式測定対象 磁性金屬測定範囲?精度 プローブにより異なります、お問い合わせください。データメモ...
日本KETT 多系統膜厚計フィッシャースコープMMS PC技術參數表： 仕様 フィッシャースコープ MMS PC MMC PC パーマ 測定方式：電磁誘導式 測定対象：磁性金屬の非磁...
日本KETT 膜厚計 LZ-990 測定方式 電磁?渦電流式 測定対象 磁性金屬 測定範囲 0 ～ 2000μm または0 ～ 80.0mils 測定精度 50μm±1μm、50μm-100...
