對比維度 | 2022版 | 2010版 |
---|---|---|
適用范圍 | 光電子集成器件 | 傳統光學儀器 |
凝露測試要求 | 分階段控制相對濕度 | 單一濕度限值 |
驗收基準 | MTBF綜合評估體系 | 單次狀態驗證 |
高精度顯微成像模組在嚴酷等級04工作狀態時,需進行適應性改進:
請注意,本內容不等同于標準原文,內容僅供參考,本站不保證內容的正確性。準確、完整的信息請參閱正式版文本。
本文件描述了光學和光子學低溫、高溫、濕熱試驗的環境試驗方法。 本文件適用于光學和光子學儀器包括來自其他領域附屬組件(如機械、化學和電子設備)的低溫、高溫與濕熱試驗。
試驗箱(室) | 用于模擬低溫、高溫和濕熱環境的實驗設備,確保內部溫度和濕度均勻且可控 |
Copyright ?2007-2025 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP備07018254號 京公網安備1101085018 電信與信息服務業務經營許可證:京ICP證110310號
頁面更新時間: 2025-03-30 00:02