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GB 10505.2-1989
3A分子篩磨耗率測定方法

3A Molecular Sieve Wear Rate Determination Method


標(biāo)準(zhǔn)號
GB 10505.2-1989
發(fā)布
1989年
總頁數(shù)
2頁
發(fā)布單位
國家質(zhì)檢總局
當(dāng)前最新
GB 10505.2-1989
 
 
適用范圍
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了3A分子篩磨耗率測定用的儀器、測定步驟以及計算與結(jié)果的表示。本標(biāo)準(zhǔn)適用于3A分子篩磨耗率的測定,也適用于其它型號、規(guī)格分子篩樣品磨耗率的測定。
術(shù)語描述
磨耗率
Abrasion Rate
表示分子篩在規(guī)定條件下被磨損的程度,以質(zhì)量百分?jǐn)?shù)表示。
焙燒
Sintering
通過高溫處理使樣品達到恒重狀態(tài)的過程。

GB 10505.2-1989 中提到的儀器設(shè)備

真空泵

抽氣速率不小于 0.5 L/s
用于抽取空氣以實現(xiàn)真空狀態(tài)。
天平

感量 0.001g
用于稱量樣品的質(zhì)量,確保測量精度。

電子天平 XPR205DUE/AC

梅特勒托利多 XPR205DUE/AC

賽多利斯Cubis 系列電子天平

賽多利斯 賽多利斯Cubis 系列

梅特勒 新經(jīng)典系列ME天平

梅特勒托利多 ME/54/104/204

賽多利斯 Quintix系列電子天平

賽多利斯 Quintix系列

顆粒磨耗測試儀

計數(shù)范圍:0~999轉(zhuǎn),額定轉(zhuǎn)速:25±1 r/min
用于測定磨耗率的核心設(shè)備,具有不銹鋼磨樣筒和精確轉(zhuǎn)速控制。
箱式電阻爐

溫差不大于 ±10°C
用于焙燒樣品至恒重狀態(tài)。
真空表

1.01×10?~0 Pa, 1.5 級
用于測量真空干燥器內(nèi)的氣壓值。
真空干燥器

內(nèi)徑 150 mm 左右
用于冷卻樣品至室溫,保持其完整性。
標(biāo)準(zhǔn)分樣篩

0.85mm, 0.60mm
符合GB6003標(biāo)準(zhǔn),用于篩選樣品粒徑。

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