DIN IEC 333:1995
核儀器儀表 帶電粒子半導(dǎo)體探測器 測試方法
Test methods for charged particle semiconductor detectors of nuclear instruments
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- DIN IEC 333:1995
- 發(fā)布
- 1995年
- 總頁數(shù)
- 23頁
- 發(fā)布單位
- 德國標(biāo)準(zhǔn)化學(xué)會
- 當(dāng)前最新
- DIN IEC 333:1995
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標(biāo)準(zhǔn)名稱：核儀器儀表—帶電粒子半導(dǎo)體探測器—測試方法
適用范圍：
本標(biāo)準(zhǔn)適用于帶電粒子半導(dǎo)體探測器的性能測試，包括環(huán)境影響測試、靈敏度測試、分辨率測量、噪聲測量等方面。主要針對核儀器儀表中的相關(guān)部件進行詳細的測試方法和規(guī)范說明。