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UNE-EN 62047-21:2014
半導體器件 微機電器件 第21部分:薄膜 MEMS 材料泊松比的測試方法

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 21: Test method for Poisson's ratio of thin film MEMS materials (Endorsed by AENOR in November of 2014.)


標準號
UNE-EN 62047-21:2014
發布
2014年
發布單位
ES-UNE
當前最新
UNE-EN 62047-21:2014
 
 

專題


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