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ISO 22489:2006
微光束分析.電子探針微量分析.運(yùn)用波長色散X射線光譜測量法定量分析塊狀樣品

Microbeam analysis - Electron probe microanalysis - Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength-dispersive X-ray spectroscopy


標(biāo)準(zhǔn)號
ISO 22489:2006
發(fā)布
2006年
中文版
GB/T 28634-2012 (等同采用的中文版本)
發(fā)布單位
國際標(biāo)準(zhǔn)化組織
替代標(biāo)準(zhǔn)
ISO 22489:2016
當(dāng)前最新
ISO 22489:2016
 
 
適用范圍
本國際標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了通過使用安裝在電子探針微量分析儀或掃描電子顯微鏡（SEM）。 它描述了： 　——定量分析的原理； 　——該技術(shù)在元素、質(zhì)量分?jǐn)?shù)和參考樣品方面的一般覆蓋范圍； 　——儀器的一般要求； 　——所涉及的基本程序，例如樣品制備、實驗條件的選擇、測量、分析和報告。 本國際標(biāo)準(zhǔn)旨在使用法向入射光束對平坦且均勻的塊狀樣品進(jìn)行定量分析。 它沒有指定儀器或數(shù)據(jù)縮減軟件的詳細(xì)要求。 操作員應(yīng)從所使用的任何產(chǎn)品的制造商處獲取儀器的安裝條件、詳細(xì)操作程序和規(guī)格等信息。

專題

ISO 22489:2006相似標(biāo)準(zhǔn)

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