一提起環(huán)境試驗箱,先了解一下“環(huán)境”與“試驗箱”,“環(huán)境”由許多環(huán)境條件組成,指待測樣品在特定時間內所經(jīng)受的外部條件總和,可以是機械的、氣候的、生物的,以及由于化學活性物質和機械活性物質產生的其他效應。 “試驗箱”的定義是“能夠達到規(guī)定的試驗條件的某部分封閉體或空間”,來模擬所需要測試的環(huán)境因素參數(shù)及其相應的嚴酷程度。...
半導體器件 第16-5部分:微波集成電路 振蕩器2023/9/72024/1/121GB/T 15651.6-2023半導體器件 第5-6部分:光電子器件 發(fā)光二極管2023/9/72024/4/122GB/T 4937.42-2023半導體器件 機械和氣候試驗方法 第42部分:溫濕度貯存2023/5/232023/12/123GB/T 4937.23-2023半導體器件 機械和氣候試驗方法 第23...
1.1高溫試驗 供試品開口置適宜的潔凈容器中,在60℃條件下放置10天,于第5天和第10天取樣,檢測有關指標。如供試品發(fā)生顯著變化,則在40℃下同法進行試驗。如60℃無顯著變化,則不必進行40℃試驗。 1.2高濕試驗 供試品置恒濕密閉容器中,于25℃分別于相對濕度75%±5%及90%±5%條件下放置10天,在第5天和第10天取樣檢測。檢測項目應包括吸濕增重項。液體制劑可不進行此項試驗。...
機械和氣候試驗方法 第34部分:功率循環(huán) 2024-07-0115GB/T 4937.35-2024 半導體器件 機械和氣候試驗方法 第35部分:塑封電子元器件的聲學顯微鏡檢查 半導體器件 機械和氣候試驗方法...
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