ASTM D1005-95(2001)
使用測微計(jì)測量有機(jī)涂層的干膜厚度的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
Standard Test Method for Measurement of Dry-Film Thickness of Organic Coatings Using Micrometers
- 標(biāo)準(zhǔn)號(hào)
- ASTM D1005-95(2001)
- 發(fā)布
- 1995年
- 總頁數(shù)
- 12頁
- 發(fā)布單位
- 美國材料與試驗(yàn)協(xié)會(huì)
- 替代標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM D1005-95(2007)
- 當(dāng)前最新
- ASTM D1005-95(2024)
- 引用標(biāo)準(zhǔn)
- ASTM D2370 ASTM D823
- 適用范圍
- 該測試方法特別適用于自由薄膜的測量，并且對(duì)于實(shí)驗(yàn)室測試板上的薄膜的測量也令人滿意。厚度測量的準(zhǔn)確性和精密度可能受到涂層變形性的影響。本試驗(yàn)方法不適用于在測量儀器負(fù)載下容易變形的涂層。當(dāng)涂層應(yīng)用于實(shí)驗(yàn)室測試板時(shí)，厚度測量的準(zhǔn)確度和精度也受到基材均勻性的影響。
1.1 本測試方法涵蓋油漆、清漆、清漆和相關(guān)產(chǎn)品干膜的膜厚測量使用千分尺。程序 A 和 B 使用固定式千分尺，程序 C 和 D 使用手持式千分尺。對(duì)于厚度小于 0.5 mils (12.5×181m) 的薄膜，不建議使用程序 A 和 C。程序 B 和 D 所需的最小厚度是能夠?qū)悠纷鳛樽杂赡ひ瞥璧暮穸鹊暮瘮?shù)。
1.2 程序如下：
1.2.1 程序A——用于測量平面剛性表面涂層的固定千分尺。
1.2.2 程序 B——測量自由薄膜的固定千分尺。
1.2.3 程序C--手持式千分尺，用于測量平面剛性表面上的涂層。
1.2.4 程序D——用于測量自由薄膜的手持式千分尺。
1.3 以英寸-磅為單位的數(shù)值應(yīng)視為標(biāo)準(zhǔn)值。括號(hào)中給出的值僅供參考。
1.4 本標(biāo)準(zhǔn)無意解決與其使用相關(guān)的安全問題（如果有）。本標(biāo)準(zhǔn)的使用者有責(zé)任在使用前建立適當(dāng)?shù)陌踩徒】祵?shí)踐并確定監(jiān)管限制的適用性。