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KS D 2716-2008
納米粒子的直徑測量技術.透射電子顯微鏡

Measurement of nanoparticle diameter-Transmission electron microscope


標準號
KS D 2716-2008
發布
2008年
發布單位
韓國科技標準局
替代標準
KS D 2716-2008(2018)
當前最新
KS D 2716-2023
 
 
適用范圍
本標準采用透射電子顯微鏡測量懸浮在空氣中或賦形劑中的球形金屬納米顆粒。

專題


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