熱釋電系數(shù)可用靜態(tài)法、動態(tài)法和積分電荷法測試,其中積分電荷法得到廣泛應(yīng)用。圖4.5-32為積分電荷法測試原理圖(GB/T3389.8-1986)。該方法通過測量在電容器上積累的熱釋電電荷,測定剩余極化隨溫度的變化。使用靜電計測得積分電容兩端電壓,輸出至函數(shù)記錄儀Y端,由于積分電容值遠(yuǎn)大于試樣...
熱釋電性是指由于溫度的變化而引起晶體表面荷電的性質(zhì)。熱釋電效應(yīng)由于晶體受熱膨脹而引起正負(fù)離子相對位移,從而導(dǎo)致晶體的總電矩發(fā)生改變,與壓電效應(yīng)相類似。由于結(jié)構(gòu)方面的原因?qū)е抡?fù)電荷中心不重合,這實際上就是一種自發(fā)極化。人們發(fā)現(xiàn)20 個具有壓電性的晶族中有 10 個可以自發(fā)極化的晶族都具有熱釋電性...
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