波阻隨著與波源距離的增加而增加,但當(dāng)距離超過波長(zhǎng)的六分之一時(shí),波阻不再變化,恒定在377處。 反射損耗隨波阻與屏蔽阻抗的比率變化,因此它不僅取決于波的類型,而且取決于屏蔽罩與波源之間的距離。這種情況適用于小型帶屏蔽的設(shè)備。...
Keysight E5063A特點(diǎn)配有多功能的 2 端口、50 Ω S 參數(shù)測(cè)試儀,可以測(cè)量各種元器件選件 010 提供時(shí)域分析功能,提升您的測(cè)量能力選件 011 提供專用的圖形用戶界面,讓 PCB 設(shè)計(jì)和測(cè)試變得輕松異常一致的測(cè)量框架有助于提高效率和生產(chǎn)率選件可隨時(shí)升級(jí)DUT示例-用于智能手機(jī)、蜂窩基站、WLAN和其他無線通信設(shè)備的天線-其他簡(jiǎn)單的射頻無源組件,如濾波器、電纜、連接器、衰減器、耦合器...
要實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)級(jí)的EMI抑制,通常需要一些適當(dāng)的方法:這主要包括屏蔽、襯墊、接地、濾波、去耦、適當(dāng)布線、電路阻抗控制等。二、電磁兼容的屏蔽設(shè)計(jì)現(xiàn)今的電子產(chǎn)業(yè)界已愈來愈注意到SE/EMC(Shielding Effectiveness,SE,隔離室屏蔽效益)的需求,而隨著更多電子組件的使用,電磁兼容性亦更受到關(guān)切。...
索引:如何使用和選擇EMI故障診斷的近場(chǎng)探頭?近場(chǎng)探頭也是射頻干擾探頭。配合50Ω示波器、接收機(jī)、頻譜分析儀進(jìn)行電場(chǎng)和磁場(chǎng)輻射干擾測(cè)試!!!用于探測(cè)印刷電路板、元器件、集成電路和電磁干擾源產(chǎn)生的輻射發(fā)射。 一、概述:近場(chǎng)電磁干擾(EMI)測(cè)試是電磁兼容性 (EMC) 輻射發(fā)射預(yù)兼容測(cè)試中的一個(gè)重要組成。EMI機(jī)構(gòu)使用EMI接收機(jī)和經(jīng)過準(zhǔn)確校準(zhǔn)的天線來測(cè)試3或10米距離上的器件,這稱為遠(yuǎn)場(chǎng)測(cè)量。...
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