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半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイス

半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイスは全部で 20 項標準に関連している。

半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイス 國際標準分類において、これらの分類：オプトエレクトロニクス、レーザー裝置、 半導體ディスクリートデバイス。

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイス

• GB/T 15651-1995 半導體デバイス ディスクリートデバイスおよび集積回路 第5部：光電子デバイス
• GB/T 15651.3-2003 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路 第5-3部 光電子デバイスの試験方法
• GB/T 15651.2-2003 半導體ディスクリートデバイスと集積回路 第5-2部 光電子デバイスの基本定格と特性
• GB/T 15651.2-2003/IEC 60747-5-2:1997 半導體ディスクリートデバイスと集積回路 第5-2部：光電子デバイスの基本定格と特性

International Electrotechnical Commission (IEC), 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイス

• IEC 60747-5:1992 半導體デバイス、ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5: オプトエレクトロニクスデバイス
• IEC 60747-5-1:1997/AMD2:2002 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイス 一般原則
• IEC 60747-5-1:2002 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイス 一般原則
• IEC 60747-5-1:1997 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイスの一般仕様
• IEC 60747-5-3:1997 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路 第5-3部：光電子デバイスの試験方法
• IEC 60747-5-1:1997/AMD1:2001 半導體個別デバイスおよび集積回路 第 5-1 部：光電子デバイスの一般規格の改訂 1
• IEC 60747-5-2:1997 半導體ディスクリートデバイスと集積回路 第5-2部：光電子デバイスの基本定格と特性
• IEC 60747-5-2:1997/AMD1:2002 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-2: オプトエレクトロニクスデバイス 基本的な定格と特性
• IEC 60747-5-1:1997+AMD1:2001+AMD2:2002 CSV 個別半導體デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス
• IEC 60747-5-3:1997/AMD1:2002 個別半導體デバイスおよび集積回路 第5-3部：光電子デバイスの測定方法
• IEC 60747-5-3:1997+AMD1:2002 CSV 個別半導體デバイスおよび集積回路 第5-3部：光電子デバイスの測定方法

Korean Agency for Technology and Standards (KATS), 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイス

• KS C IEC 60747-5:2004 半導體ディスクリートデバイスと集積回路 第5部：光電子デバイス
• KS C IEC 60747-5-1:2004 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-1: オプトエレクトロニクスデバイスの一般仕様
• KS C IEC 60747-5-3:2004 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-3: オプトエレクトロニクスデバイス テスト方法
• KS C IEC 60747-5-2:2004 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路 パート 5-2: オプトエレクトロニクスデバイス 基本的な定格と特性

Association Francaise de Normalisation, 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイス

• NF C96-005-1/A2*NF EN 60747-5-1/A2:2002 個別半導體デバイスと集積回路 パート 5-1: 一般的な光電子デバイス

その他：   半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイス.