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TEM、STEM 和 SEM (T-SEM) 中納米尺度的 EDS 元素面分析清晰的多功能測量裝置和細(xì)管徑幾何構(gòu)型可確保在常規(guī)基礎(chǔ)上快速可靠的采集 TEM EDS 數(shù)據(jù)。使用 HyperMap 或譜圖獲取高光譜成像,我們的軟件保存每個像素的譜...
布魯克 EDS 適配每一款電子顯微鏡并提供無與倫比的速度和精度,這使得布魯克 EDS 為任何實驗室提供了最強大的 EDS 系統(tǒng)。此系統(tǒng)包括光譜成像,使微納米分析不再是一個挑戰(zhàn)。