IEEE Std 300-1988(R2006)
半導(dǎo)體帶電粒子探測器的 IEEE 標(biāo)準(zhǔn)測試程序
IEEE Standard Test Procedures for Semiconductor Charged-Particle Detectors
- 標(biāo)準(zhǔn)號
- IEEE Std 300-1988(R2006)
- 發(fā)布
- 2006年
- 總頁數(shù)
- 35頁
- 發(fā)布單位
- 美國電氣電子工程師學(xué)會
- 當(dāng)前最新
- IEEE Std 300-1988(R2006)
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IEEE Std 300?-1988(R2006) (Revision of IEEE Std 300-1982)
(美國電氣與電子工程師學(xué)會標(biāo)準(zhǔn))
適用范圍: 此標(biāo)準(zhǔn)提供了半導(dǎo)體電荷粒子探測器在放射性離子輻射測試中的標(biāo)準(zhǔn)化程序，取代了之前的版本ANSI/IEEE Std 300-1982。該標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)多年使用早期版本的經(jīng)驗進行了修改和完善，并考慮了技術(shù)的進步。
此標(biāo)準(zhǔn)由美國電氣與電子工程師學(xué)會核儀器和探測器委員會制定。