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IEEE 300-1982
半導體帶電粒子探測器的標準測試程序

STANDARD TEST PROCEDURES FOR SEMICONDUCTOR CHARGED-PARTICLE DETECTORS

被代替

2006-06

標準號: IEEE 300-1982
發布: 1982年
發布單位: 美國電氣電子工程師學會
替代標準: IEEE 300-1988
當前最新: IEEE 300-1988

專題

半導體測試程序高能粒子探測器半導體高能粒子探測太空粒子探測器

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