本標準規定了電子探針分析儀的檢測條件、技術要求、檢測方法、判別原則與檢測周期。 本標準適用于使用中、修理后用X射線波長分光譜儀(簡稱波譜儀)進行元素分析的電子探針分析儀的檢測。配有波譜儀的掃描電子顯微鏡的檢測可參照執行。
定量分析的樣品必須磨平拋光、清洗干凈。 若樣品不能進行表面磨平拋光(將影響分析精度)處理應事先說明。 為測試方便和節約機時,樣品應先切成小薄片,不能切割制樣,必須先與測試人員商量。 應先標記好分析面上的測試點,無標記測試位置時,測試時只選有代表性、較平整位置測試。液體樣必須先濃縮干燥...
電子探針顯微分析(EPMA = Electron Probe Microanalysis),全稱:電子探針x射線顯微分析,是一種顯微分析和成分分析相結合的微區分析。適用于分析試樣中微小區域的化學成分,是研究材料組織結構和元素分布狀態的有效方法。 電子探針顯微分析是利用聚焦電子束(電子探測針...
電子探針可以對試樣中微小區域微米的化學組成進行定性或定量分析,除做微區成分分析外,還能觀察和研究微觀形貌、晶體結構等。電子探針技術具有操作迅速簡便、實驗結果的解釋直截了當、分析過程不損壞樣品、測量準確度較高等優點,在冶金、地質、土壤、生物、醫學、考古以及其他領域中得到日益廣泛應用,是土壤和礦物...
電子探針X射線顯微分析儀,簡稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來激發出試樣表面組成元素的特征X射線,并根據X射線的波長和強度,對微區成分進行定性或定量分析的一種材料物理儀器。電子探針分析的原理是以電子束轟擊試樣表面,擊出表面組成元素的原子內層電子,使原子電離,此時外層電子迅速填補空位而釋放能量...
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