定量分析的樣品必須磨平拋光、清洗干凈。 若樣品不能進(jìn)行表面磨平拋光(將影響分析精度)處理應(yīng)事先說(shuō)明。 為測(cè)試方便和節(jié)約機(jī)時(shí)，樣品應(yīng)先切成小薄片，不能切割制樣，必須先與測(cè)試人員商量。 應(yīng)先標(biāo)記好分析面上的測(cè)試點(diǎn)，無(wú)標(biāo)記測(cè)試位置時(shí)，測(cè)試時(shí)只選有代表性、較平整位置測(cè)試。液體樣必須先濃縮干燥...
電子探針顯微分析（EPMA = Electron Probe Microanalysis），全稱：電子探針x射線顯微分析，是一種顯微分析和成分分析相結(jié)合的微區(qū)分析。適用于分析試樣中微小區(qū)域的化學(xué)成分，是研究材料組織結(jié)構(gòu)和元素分布狀態(tài)的有效方法。 電子探針顯微分析是利用聚焦電子束（電子探測(cè)針...
電子探針X射線顯微分析儀(Electron probe X-raymicroanalyser , EPMA )的簡(jiǎn)稱為電子探針 。在眾多樣品化學(xué)成分分析的儀器中，電子探針?lè)治黾夹g(shù)(EPMA)是一種應(yīng)用較早、且至今仍具有獨(dú)特魅力的多元素分析技術(shù)。 二戰(zhàn)以來(lái)，世界經(jīng)濟(jì)和社會(huì)的迅猛發(fā)展極大的促進(jìn)了...
電子探針X射線顯微分析儀，簡(jiǎn)稱電子探針。是指以聚焦的高速電子來(lái)激發(fā)出試樣表面組成元素的特征X射線，并根據(jù)X射線的波長(zhǎng)和強(qiáng)度，對(duì)微區(qū)成分進(jìn)行定性或定量分析的一種材料物理儀器。電子探針?lè)治龅脑硎且噪娮邮Z擊試樣表面，擊出表面組成元素的原子內(nèi)層電子，使原子電離，此時(shí)外層電子迅速填補(bǔ)空位而釋放能量...
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