IEC 60333:1993
核儀器 半導體帶電粒子探測器 試驗程序
Nuclear instrumentation; semiconductor charged-particle detectors; test procedures
IEC 60333:1993 中，可能用到以下儀器
點擊查看大圖
- 標準號
- IEC 60333:1993
- 發(fā)布
- 1993年
- 發(fā)布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 60333:1993
所述測試的目的是為用于帶電粒子檢測和高分辨率光譜的半導體探測器建立標準測試程序。最好保持標準測試程序，以便測量人員
專題
IEC 60333:1993相似標準
推薦
半導體探測器簡介
半導體探測器是以半導體材料為探測介質(zhì)的輻射探測器。最通用的半導體材料是鍺和硅，其基本原理與氣體電離室相類似，故又稱固體電離室。半導體探測器的基本原理是帶電粒子在半導體探測器的靈敏體積內(nèi)產(chǎn)生電子－空穴對，電子－空穴對在外電場的作用下漂移而輸出信號。常用半導體探測器有 P-N結(jié)型半導體探測器、 鋰漂移型半導體探測器和高純鍺半導體探測器...
半導體探測器的發(fā)展歷史
半導體探測器的前身可以認為是晶體計數(shù)器 。早在1926年就有人發(fā)現(xiàn)某些固體電介質(zhì)在核輻射下產(chǎn)生電導現(xiàn)象。后來，相繼出現(xiàn)了氯化銀、金剛石等晶體計數(shù)器。但是，由于無法克服晶體的極化效應問題，迄今為止只有金剛石探測器可以達到實用水平。半導體探測器發(fā)現(xiàn)較晚，1949年開始有人用α 粒子照射鍺半導體點接觸型二極管時發(fā)現(xiàn)有電脈沖輸出...
毒性試驗程序
試驗設(shè)計:設(shè)計試驗在生物毒性試驗中是一項重要內(nèi)容,在進行每一項毒性試驗時,都應該事先查閱相關(guān)文獻,然后根據(jù)試驗目和要求制定制定周密的試驗方案。對水生生物進行的毒性試驗設(shè)計大致包括:(1)選擇受試生物;(2)設(shè)置毒物濃度;(3)試驗持續(xù)時間;(4)受試生物的數(shù)量及分布;(5)確定觀察指標及測定方法。試驗溶液的配制...
半導體探測器的應用領(lǐng)域
隨著科學技術(shù)不斷發(fā)展需要，科學家們在鍺鋰Ge(Li)、硅鋰Si(Li)、高純鍺HPGe、金屬面壘型等探測器的基礎(chǔ)上研制出許多新型的半導體探測器，如硅微條、Pixel、CCD、硅漂移室等，并廣泛應用在高能物理、天體物理、工業(yè)、安全檢測、核醫(yī)學、X光成像、軍事等各個領(lǐng)域。世界各大高能物理實驗室?guī)缀醵疾捎冒雽w探測器作為頂點探測器...