IEC 60333:1993
核儀器 半導體帶電粒子探測器 試驗程序
Nuclear instrumentation; semiconductor charged-particle detectors; test procedures
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- 標準號
- IEC 60333:1993
- 發(fā)布
- 1993年
- 發(fā)布單位
- 國際電工委員會
- 當前最新
- IEC 60333:1993
所述測試的目的是為用于帶電粒子檢測和高分辨率光譜的半導體探測器建立標準測試程序。最好保持標準測試程序，以便測量人員
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