GB/T 2423.102-2008
電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗.第2部分:試驗方法.試驗:溫度(低溫、高溫)/低氣壓/振動(正弦)綜合
Environmental testing for electric and electronic products.Part 2:Test method.Test:combined temperature(cold and heat)/low air pressure/vibration(sinusoidal)
GBT2423.102-2008, GB2423.102-2008
GB/T 2423.102-2008 中，可能用到以下儀器
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- 標準號
- GB/T 2423.102-2008
- 別名
- GBT2423.102-2008
GB2423.102-2008 - 發(fā)布
- 2008年
- 發(fā)布單位
- 國家質(zhì)檢總局
- 當前最新
- GB/T 2423.102-2008
- 引用標準
- GB/T 2421-1999 GB/T 2422-1995 GB/T 2423.1-2001 GB/T 2423.10-2008 GB/T 2423.2-2001 GB/T 2423.21-1991 GB/T 2423.26-1992
- 被代替標準
- GB/T 2424.24-1995 GB/T 2423.42-1995
本部分規(guī)定了溫度（低溫、高溫）/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗的基本要求、嚴酷等級、試驗程序以及其他技術(shù)細則。 本部分適用于確定產(chǎn)品在溫度（低溫、高溫）、低氣壓和振動（正弦）綜合作用下的貯存、運輸和使用的適應性。有溫度變化的綜合試驗可參考本部分。
標準
專題
GB/T 2423.102-2008相似標準
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GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動--中再現(xiàn)性
GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動--低再現(xiàn)性
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GB/T 2423.17-2024 環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ka：鹽霧
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GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度
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