ZH
EN
KR
ES
RU
DE

電子デバイス

電子デバイスは全部で 45 項標準に関連している。

電子デバイス 國際標準分類において、これらの分類：電子機器用機械部品、 電子および通信機器用の電気機械部品、 電子管、 印刷技術、 鉱山機械、 エネルギー?伝熱工學総合、 電気、磁気、電気および磁気測定、 導體材料、 無駄、 航空機と宇宙船の統合、 光ファイバー通信、 品質、 総合電子部品、 オプトエレクトロニクス、レーザー裝置、 航空宇宙用電気機器およびシステム。

Professional Standard - Electron, 電子デバイス

• SJ/T 3233-2008 真空電子機器 電子銃ラック ガラス棒
• SJ/T 10753-2015 電子機器用の金、銀およびその合金はんだ
• SJ 20151-1992 電子機器用ニッケルテープ仕様
• SJ 20390-1993 電子機器用ガラス 金屬接合部仕様
• SJ/T 10747-1996 マイクロ波電子機器のリードカラーマーキング
• SJ/T 10753-1996 電子機器用の金、銀およびその合金はんだ
• SJ 20144-1992 電子機器用モリブデン棒、モリブデン線、モリブデンシートの規格
• SJ/T 10256-1991 BHC-1～3 電子機器パッケージング用変性エポキシ成形材料
• SJ/T 11020-1996 電子機器用銀銅はんだの分析法 - ヨウ素分析法による銅の定量
• SJ/Z 2976-1988 電子デバイス用はんだ材料の物性試験方法、はんだ付けおよびはんだ除去溫度の決定
• SJ/T 11029-1996 電子機器用金銅はんだの分析法 EDTA定量法によるニッケルの定量
• SJ/T 11024-1996 電子機器用銀銅はんだの分析法 - 原子吸光光度法によるアンチモンの定量
• SJ/T 11027-1996 電子機器用銀銅はんだの分析法 - 原子吸光光度法によるマグネシウムの定量
• SJ/T 11018-1996 電子機器に使用される純銀はんだの分析法 - 燃焼ヨウ素法による硫黃の定量
• SJ/T 10754-1996 電子機器用金、銀及びその合金はんだの試験方法 清浄度試験方法
• SJ/T 11013-1996 電子機器用純銀はんだの分析法 - 原子吸光光度法によるカドミウムの定量
• SJ/T 11026-1996 電子機器用銀銅はんだの分析法 原子吸光光度法による鉄、カドミウム、亜鉛の定量
• SJ/T 11025-1996 電子機器用銀銅はんだの分析法 - 原子吸光光度法による鉛の定量
• SJ/T 11028-1996 電子機器用金銅はんだの分析方法 EDTA容積法による銅の定量
• SJ/T 11015-1996 電子機器用純銀はんだの分析法 フェナントロリン分光光度法による鉄の定量
• SJ 20143-1992 電子機器用タングステン線の規格
• SJ/T 10755-1996 電子機器に使用される金、銀およびその合金はんだの検査方法、スパッタ特性の検査方法。
• SJ/T 11023-1996 電子機器用銀銅はんだの分析方法 原子吸光光度法によるビスマスの定量

Professional Standard - Urban Construction, 電子デバイス

• GB 51343-2018 真空電子機器製造ライン設備設置技術基準

Professional Standard - Press and Publication, 電子デバイス

• CY/T 248-2021 印刷されたフレキシブル透明フィルム電子デバイスの品質要件
• CY/T 275-2024 フレキシブル透明薄膜電子デバイスの印刷プロセスの制御要件

Professional Standard - Machinery, 電子デバイス

• JB/T 7845-1995 陸上掘削リグ用電子機器を搭載した電気制御裝置

Beijing Provincial Standard of the People's Republic of China, 電子デバイス

• DB11/T 2176-2023 電子機器製造業のエネルギー計測器設備及び管理基準

國家市場監督管理總局、中國國家標準化管理委員會, 電子デバイス

• GB/T 39722-2020 超電導電子機器用センサーおよび検出器の一般仕様

Military Standard of the People's Republic of China-General Armament Department, 電子デバイス

• GJB 7350-2011 軍用電子機器のパルスガンマ線影響の試験方法
• GJB 33/21-2011 半導體光電子デバイス詳細仕様 フォトカプラ GD310Aシリーズ
• GJB/Z 40.6-1993 軍用真空電子デバイスシリーズ スペクトル真空光電子デバイス
• GJB 8118-2013 軍用電子部品の分類とコード

Group Standards of the People's Republic of China, 電子デバイス

• T/JSSES 12-2021 電池製造および電子デバイス製造業界向けのイソプロピル アルコール再生ソリューション
• T/JSSES 15-2021 電池製造および電子デバイス製造業界向けの N-メチルピロリドン再生ソリューション

Professional Standard - Tobacco, 電子デバイス

• YC/T 10.14-1993 たばこ機械の一般技術條件 電子機器を備えた電気制御裝置

中華人民共和國國家質量監督檢驗檢疫總局、中國國家標準化管理委員會, 電子デバイス

• GB/T 34954.1-2017 アビオニクス プロセス管理 電子デバイス サービス パフォーマンス パート 1: 溫度上昇

Professional Standard - Post and Telecommunication, 電子デバイス

• YD/T 2342-2011 通信に使用される光電子デバイスの信頼性試験方法

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China, 電子デバイス

• GB/T 21194-2007 通信機器に使用される光電子デバイスの信頼性に関する一般的な要件
• GB/T 15651.2-2003 半導體ディスクリートデバイスと集積回路 第5-2部 光電子デバイスの基本定格と特性

British Standards Institution (BSI), 電子デバイス

• BS EN IEC 62435-8:2020 電子部品 電子半導體デバイスの長期保管 - 受動電子デバイス

Association Francaise de Normalisation, 電子デバイス

• NF EN IEC 62435-8:2020 電子部品 半導體電子デバイスの長期保管 第8部：受動電子デバイス

International Electrotechnical Commission (IEC), 電子デバイス

• IEC 62435-8:2020 電子部品 電子半導體デバイスの長期保管 第8部：受動電子部品

Professional Standard - Aerospace, 電子デバイス

• QJ 2227-1992 航空宇宙用電子部品の保管および延長再検査要件

Government Electronic & Information Technology Association, 電子デバイス

• GEIA-STD-0003-2006 電子機器の長期保管

その他：   電子デバイス, マイクロ電子デバイス, 光電子デバイス, 電子機器用銀銅はんだの分析方法 原子吸光光度法によるビスマスの定量, 電子機器用金?銀及びその合金はんだの分析方法 清浄度?飛散性, 光ファイバーシステム用半導體光電子デバイス, 半導體光電子デバイスのパワー発光ダイオードのブランク詳細, 通信に使用される光電子デバイスの信頼性試験方法, マイクロ電子デバイスのテスト方法と手順, 光電子デバイスコア, 光オプトエレクトロニクスデバイス, 新しい電子機器の機能, 超低消費電力電子機器, 電子機器の梱包, 電子機器の梱包要件, マイクロ電子デバイスのテスト方法と手順, 半導體ディスクリートデバイスおよび集積回路光電子デバイス, 真空エレクトロニクス.